SX-165 CCD探测器
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MarXperts很高兴能够成为美国Rayonix公司制造的世界上最先进的大面积CCD X射线探测器的经销商（美洲以外的地区.
TSX系列是唯一适用于同步加速器和旋转阳极X射线源的CCD X射线探测器。 SX-165具有圆形，165 mm直径的有效区，以及多功能，高分辨率的CCD芯片。 SX-165是非常成功的marCCD X射线探测器的升级版本。 从大分子晶体学到小角X射线散射（SAXS），SX-165在闻名于无与伦比的成像和出色的可靠性。 SX-165保留与marCCD相同的设计和构造，但具有现代化和改进的控制器以及更高的增益。 它还具有数毫秒级的时间分辨成像的移频移位模式, SX-165可以配合mardtb 使用，也可独立使用. |
亮点:
- 单芯片，大型检测表面:>
SX-165使用一个4kx4k芯片，固定连接到单个光纤锥，坚固可靠。 该单片设计， 具有在正方形CCD芯片上成像的最大直径，为165mm的圆锥形. - 低噪音，快速阅读:
定制电子设备在高读出速度下提供极低的读出噪声。 SX-165同时从四个通道读取芯片，在2.5秒内产生2048x2048像素的图像，读取噪声比任何同类型的检测器小. - 低温，低电流:
SX-165中的CCD芯片冷却至-70°C，并在密封的真空室内保护。 所产生的暗电流小于0.01e /像素/秒，可容许任何X射线光源及任何晶体的数据收集有足够长的曝光。 制冷系统只需要一个标准的电源插座，而不需要冷却水. - 出厂校准:
T交货前SX-165正确校准， 由于光纤锥和CCD芯片之间的永久性接合，仪器不需要进行常规重新校准. - 时间分辨成像:
使用SX-165的新开发的可选数据采集模式使得数据帧传播技术在几毫秒内完成， 帧移模式使用CCD芯片的一部分进行成像，其余用于数据存储， 在收集第一个图像后，触发CCD快速移动可配置数量的像素行，下一个图像曝光， 进一步的触发可以使CCD又一次移动，直到CCD被填满， 然后以标准速率读出整个CCD，并产生显示独立曝光的图像.
规格:
- 探测器:
- 芯片硬件binning - 软件可选
- 荧光体: Gd2O2S:Tb <40 μm 厚
- 在-80°C的闭环制
- 所选择的CCD芯片， 具有低噪音和低数量的宇宙射线， 所有的缺陷都可以通过工厂校准程序进行校正和修正
- C控制和数据采集系统:
- 专有的PCI总线主控DMA控制器，内核级驱动
- 直接将数据实时传输到工作站内存，无需占用CPU
- 光学数字输入，用于快门和/或读出的外部触发
- 光学数字输出作为外部快门控制器的触发
- 用于外部电磁阀的高电流驱动电
24V开路脉冲，3V恒定）.
技术数据:
| X光敏感表面直径 | 165 mm diameter |
| CCD芯片数量 | 1 |
| 芯片像素 | 4096 x 4096 |
| 读出通道数 | 4 |
| 光纤锥缩小率 | 2.7 : 1 |
| 软件可选成像和像素大小 | 2048 x 2048 (80 μm) 1024 x 1024 (160 μm) 512 x 512 (320 μm) |
| 检测量子效率（DQE）在8-12 keV | ≤ 0.8 |
| 点扩散函数 | FWHM < 100 μm FW 1% < 300 μm |
| 增益（每12keV X射线光子的电子) | 6 e¯ |
| 标准读出模式下读出噪声 | < 13 e¯/像素 |
| -70°C 时的暗电流 | ≤ 0.01 e¯/像素/秒 |
| 12 keV光子的井深为 | 45.000 光子/像素 |
| 动态范围 | 16 位 |
| 检测器的物理尺 | |
| 高x宽x深 | 22 x 22 x 34 cm |
| 重量 | < 20 kg |
| 外部尺寸 | |
| Height x width x depth | 72 x 43 x 64 cm |
| 重量 | < 60 kg |
手册下载:
- Manual for program marccd (pdf: 3.1 MB)
- Product brochure (pdf: 2.63 MB)
- Drawing of top and side view of mardtb with SX-165 (pdf: 151 kB)